NANOS 臺式掃描電鏡是一款全面且高性價比的臺式掃描電子顯微鏡（SEM）。它采用新技術進行設計，提供快速高質量的SEM成像和元素分析。它的設計*且現代，非常適合科學研究、產品研發(fā)和工業(yè)用戶使用。此外，它還非常適合處理落地式場發(fā)射SEM儀器的常規(guī)樣品分析任務。憑借優(yōu)異的穩(wěn)定性、堅固的設計和小巧的體積，NANOS 可在任何實驗室環(huán)境中使用，而無需特定的基礎設施。

NANOS標配二次電子探測器（SED）和背散射電子探測器（BSD）。BSD具有四分割分別成像功能，通過使用不同區(qū)域信號的組合，能夠實現樣品的成分或形貌細節(jié)獨立成像，以及通過從多個方向突出顯示表面而具有“投影成像效果"的圖像。SED則負責收集從樣品表面發(fā)射的電子，提供清晰且高分辨率的表面敏感成像。SED生成的圖像能夠傳達表面形貌信息，由于束斑與樣品相互作用體積較小，通常具有更高的分辨率。

元素分析

NANOS配備了一體式集成硅漂移能量色散X射線探測器（EDS）。通過用戶界面，用戶可以選擇EDX點分析或實時元素面掃描。

優(yōu)中心樣品臺

NANOS是臺式掃描電鏡標配優(yōu)中心設計樣品臺，能夠通過用戶控制界面實現電動XY軸樣品臺移動，在SEM成像模式下可采用優(yōu)中心設計樣品臺傾轉實現樣品傾斜觀察，且樣品始終保持聚焦狀態(tài)，無需重新對焦，用戶界面實時顯示精確樣品臺傾斜角度，最大傾斜角度為55°。

導航相機

NANOS在進樣時，標配的光學導航相機會自動對樣品進行拍照實現樣品精準導航。即便在高倍下，用戶可以輕松確定樣品位置。

低真空成像

NANOS標配低真空成像功能，低真空成像模式能夠有效減少或消除樣品荷電對成像的影響。當在高真空模式下觀察不導電的樣品時，電子積聚在樣品表面，會導致嚴重荷電現象，影響樣品觀察。NANOS 配備低真空模式以解決此問題。只需點擊鼠標，即可輕松從高真空切換到低真空。

用戶操作界面

NANOS軟件界面始終將SEM圖像放在屏幕的中心，通過直觀的軟件界面進行簡單設置，即可完成樣品拍攝。該軟件為僅需快速簡單SEM成像的人提供簡易模式，同時也為深入進行樣品分析需求提供高級模式。用戶可以通過無線鼠標和鍵盤控制NANOS，并可以通過iPad實現設備遠程操控。導航位置光標始終處于激活狀態(tài)，用戶能夠清楚知道拍攝位置以及方便切換其他拍攝位置。

圖1 – 低真空模式圖像：風干的未鍍膜角堇花瓣

圖2 – SE/BSE混合成像模式，可任意調節(jié)和顯示SE和BSE混合成像效果

圖3 – 空心針尖圖像，傾斜角度為-37°